- Localidad
- Madrid (Madrid)
Microscopía electrónica de transmisión (JEOL 2100) equipado con detector EDX (ULTIMAX, Oxford)
Microscopio de fuerza atómica (Multimode 8 Bruker y controlador Nanoscope V)
Microscopio óptico con luz polarizada (NIKON EclipseE600POL con placa calefactora Metler Toledo FP82HT)
Cromatografia SEC-4T (OmniSEC, Malvern) y SLS/ DLS (Zetasizer, Malvern)
Calorimetría diferencial de barrido a baja temperatura (DSC8500 Perkin Elmer)
Espectroscopia ATR-FTIR (Spectrum One, Perkin Elmer)
Medidas de angulo de contacto superficial.
Espectroscopia dieléctrica (Novocontrol)
Análisis reológico en los modos de torsión y extensión (DHR20, TA Instruments) y capilar (Smart Rheo, CEAST)
Microrreologia DLS (Zetasizer Malvern)
Microfluidica de cizalla y extensión (m-VROC II, RheoSense)
Dispersión de rayos X a bajo ángulo - SAXS (Nanostar C)
Asesoramiento en modelos atomísticos, de grano grueso y en la mesoescala en química, biología y materiales
- Análisis reológico
- Calorimetría diferencial de barrido de baja temperatura
- Caracterización dieléctrica
- Caracterización estructura: Microscopía optica
- Caracterización estructural: Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM)
- Consultoría científica en modelización, computación y simulación
- Cromatografía de exclusión por tamaños, SEC
- Determinación de la viscosidad
- Determinación de ángulo de contacto en superficie
- Dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS)
- Espectroscopia de infrarrojo medio (FTIR)
- Liofilización
- Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS) en Microscopía Electrónica de Transmisión
- Microscopía de barrido: AFM contacto
- Uso de cámara / cabina / campana de atmósferas controladas o modificadas